Poudre de silice sphérique pour applications d'emballage électronique

Vues : 0     Auteur : Éditeur du site Heure de publication : 2026-08-06 Origine : Site

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Poudre de silice sphérique pour applications d'emballage électronique

La miniaturisation continue des dispositifs semi-conducteurs et la montée en puissance de l'intégration à très grande échelle (VLSI) exigent des matériaux d'emballage capables de gérer des contraintes thermiques et mécaniques extrêmes. Les charges de silice angulaires traditionnelles échouent aux densités de compactage élevées requises pour les copeaux avancés. Ils provoquent des pics de viscosité inacceptables dans les composés de moulage époxy (CEM), une usure abrasive sévère des outils de fabrication et des risques élevés de balayage des fils ou de fissuration des copeaux. Pour atteindre des taux de remplissage allant jusqu'à 90 % tout en maintenant la transformabilité, les ingénieurs doivent passer à des solutions spécialisées. poudre de silice sphérique pour emballage électronique . Cette transition résout les goulots d'étranglement rhéologiques, permettant un chargement dense de charges sans compromettre les caractéristiques d'écoulement de la résine non durcie. Nous examinerons les critères d'évaluation techniques, les méthodes de fabrication, les compromis en matière de performances et les risques de mise en œuvre pour l'approvisionnement en ces matériaux.

  • La morphologie dicte le débit : la poudre de silice à haute sphéricité est obligatoire pour atteindre une densité de compactage maximale (jusqu'à 90 %) dans les CEM et les résines de sous-remplissage tout en maintenant une faible viscosité et en empêchant le balayage du fil pendant l'encapsulation.

  • La pureté empêche les pannes : la poudre de silice sphérique de haute pureté (99,9 %+) avec des impuretés ioniques strictement contrôlées et de faibles émissions de particules alpha n'est pas négociable pour éviter les erreurs logicielles dans les dispositifs de mémoire et la corrosion dans les circuits intégrés.

  • L'optimisation PSD est essentielle : la sélection de la distribution granulométrique (PSD) correcte (généralement un mélange de tailles comprises entre 0,01 μm et 50 μm, avec des coupes serrées spécifiques comme 2,5 μm pour les sous-remplissages avancés) est le principal levier pour équilibrer la réduction du coefficient de dilatation thermique (CTE) avec la fluidité de la résine.

  • La méthode de fabrication est importante : la méthode de synthèse d'un fournisseur (par exemple, fusion par flamme ou sol-gel) dicte fondamentalement la pureté de base, la cohérence de la sphéricité et l'adéquation à des segments d'utilisation finale spécifiques.

  • Le traitement de surface atténue les risques : la silice sphérique ultra-fine non traitée est sujette à l'agglomération ; L'évaluation des capacités de modification de surface d'un fournisseur (par exemple, agents de couplage silane) est essentielle pour garantir une dispersion uniforme.

Le rôle de la poudre de silice sphérique dans les emballages électroniques

Définir les critères de réussite

Les emballages de semi-conducteurs modernes fonctionnent sous des contraintes physiques strictes. L'encapsulant doit fournir une dilatation thermique minimale, une conductivité thermique élevée, une résistance absolue à l'humidité et un rendement de fabrication élevé. Les matrices en silicium ont un très faible coefficient de dilatation thermique (CTE), généralement autour de 2,6 à 3,0 ppm/K. Les résines époxy non chargées présentent un CTE beaucoup plus élevé, dépassant souvent 60 ppm/K. Les grilles de connexion en cuivre se situent autour de 17 ppm/K. Ce grave décalage génère d’immenses contraintes thermomécaniques lors des cycles de température. Si elle n'est pas gérée, cette contrainte entraîne un délaminage au niveau de l'interface de fixation de la puce, une fatigue des joints de soudure ou une fissuration catastrophique de la puce. La fonction principale du matériau de remplissage est de combler cet écart physique. En chargeant la résine avec une charge à faible CTE, les ingénieurs réduisent le CTE composite tout en conservant les propriétés d'isolation électrique du boîtier.

Composés de moulage époxy (EMC) et résines de sous-remplissage

Dans la formulation des EMC et des résines de sous-remplissage, la poudre de silice pour emballages électroniques fait office de charge fonctionnelle principale. Ces résines contiennent souvent de 70 à 90 % en poids de silice. Le matériau de remplissage protège les matrices fragiles en silicium des chocs physiques, de la pénétration de l'humidité et des contaminants chimiques. Les processus de moulage par transfert nécessitent que l'EMC maintienne une faible viscosité (généralement inférieure à 15 Pa·s à 175°C) pour s'écouler dans des cavités de moule complexes. Dans les sous-remplissages capillaires utilisés pour les conceptions à puce retournée, les exigences sont encore plus strictes. La charge doit s'écouler à travers des espaces aussi étroits que 10 à 50 micromètres sans se déposer ni provoquer de vides. La forme sphérique permet aux particules de rouler les unes sur les autres et de dépasser les délicats bosses de soudure, assurant ainsi une distribution uniforme sous la puce et maximisant l'intégrité structurelle de l'assemblage final.

Substrats microélectroniques et stratifiés cuivrés (CCL)

Au-delà des encapsulants liquides et des composés de moulage, la silice sphérique est de plus en plus utilisée dans la fabrication de substrats microélectroniques rigides et flexibles. Dans les stratifiés cuivrés (CCL) haute fréquence utilisés pour les communications 5G, les radars automobiles (par exemple, les systèmes 77 GHz) et les cartes serveurs avancées, la stabilité dimensionnelle est une exigence stricte. L'incorporation de silice sphérique dans des matrices de substrat bismaléimide triazine (BT) ou PTFE réduit la constante diélectrique (Dk) et le facteur de dissipation (Df). La silice présente naturellement un faible Dk d'environ 3,8 et un Df d'environ 0,001. Cela minimise la perte de signal lors de la transmission de données à grande vitesse. La surface lisse des particules sphériques empêche également la micro-abrasion des délicats tissages de fibres de verre utilisés dans ces stratifiés, préservant ainsi la résistance mécanique du panneau lors des opérations de pressage et de perçage.

Le passage de l’angulaire au sphérique

La transition de la silice broyée angulaire à la silice sphérique représente un changement fondamental dans l’ingénierie de l’emballage. La silice angulaire est produite par broyage mécanique de blocs de quartz. C’est peu coûteux mais limite fortement les taux de remplissage. Les particules angulaires possèdent une surface spécifique (SSA) élevée. Un SSA élevé signifie que plus de résine liquide est immobilisée à la surface des particules, laissant moins de résine libre disponible pour faciliter l'écoulement. Les bords irréguliers s'emboîtent dans la résine, augmentant de façon exponentielle la viscosité et provoquant l'usure des outils abrasifs dans les moules et les buses de distribution. La silice sphérique permet des taux de remplissage ultra-élevés avec un minimum de friction. Les surfaces lisses et arrondies réduisent la surface totale par unité de volume, nécessitant moins de résine pour mouiller les particules. Cela permet aux ingénieurs de conditionner plus de silice dans le même volume, réduisant ainsi le CTE et améliorant la conductivité thermique sans transformer la résine non durcie en un solide inutilisable.

Comparaison des charges de silice angulaires et sphériques

Propriété

Silice concassée angulaire

Silice sphérique

Chargement pratique maximal (% en poids)

~70%

85% - 90%+

Surface spécifique (SSA)

Haut

Faible (Minimum théorique)

Impact sur la viscosité de la résine

Augmentation exponentielle à charge élevée

Augmentation progressive, maintient le débit

Usure des outils (moules/buses)

Forte abrasion

Frottement minimal

Risque de balayage de fil

Haut

Faible

Poudre de silice sphérique pour emballage électronique

Dimensions d'évaluation technique pour la silice sphérique de qualité électronique

Évaluation des méthodes de fabrication (fusion à la flamme ou synthèse chimique)

La méthode de synthèse détermine directement la base physique et chimique de la charge. La fusion à la flamme traditionnelle consiste à introduire de la poudre de quartz angulaire de haute pureté dans un plasma à haute température ou une flamme oxygène-hydrogène (souvent dépassant 2 000 °C). Les particules irrégulières fondent instantanément et la tension superficielle les entraîne en sphères parfaites avant qu'elles ne quittent la zone de combustion et ne refroidissent rapidement. Cette méthode est hautement évolutive et produit la majeure partie des silice sphérique de qualité électronique utilisée dans les circuits intégrés logiques standard, les composants discrets et les CCL standard.

La synthèse chimique avancée, telle que le procédé sol-gel ou le transport d'humidité en phase vapeur (VMC), construit les particules de silice à partir du niveau moléculaire. Le sol-gel implique l'hydrolyse et la condensation d'alcoolates de silicium (comme l'orthosilicate de tétraéthyle, TEOS) dans une solution alcoolique avec un catalyseur à l'ammoniac. Parce qu’elle ne repose pas sur du quartz extrait, la synthèse chimique atteint une pureté presque parfaite et une sphéricité exacte. VMC utilise de la poudre de silicium métallique réagissant avec l'oxygène et la vapeur d'eau dans un réacteur à haute température contrôlée. Les ingénieurs spécifient la silice synthétisée chimiquement pour les dispositifs de mémoire de pointe, l'électronique de puissance et les puces logiques de nœuds avancées où les traces d'impuretés ne peuvent être tolérées.

Méthodes et spécifications de fabrication de poudre de silice

Méthode de fabrication

Source de matières premières

Niveau de pureté typique

Rapport de sphéricité

Demande principale

Fusion de flammes

Quartz extrait de haute pureté

99,5% - 99,8%

>0,95

CEM standard, circuits intégrés logiques, CCL

Synthèse chimique (Sol-Gel)

Alcoxydes de silicium (TEOS)

>99,99 %

>0,98

Mémoire avancée, substrats haute fréquence

Transport d'humidité en phase vapeur (VMC)

Silicium métal/halogénures

>99,9%

>0,97

Sous-remplissages ultra-fins, emballage flip-chip

Évaluation de la sphéricité et de la morphologie élevées

La sphéricité est quantifiée sous forme de rapport, où une sphère parfaite est égale à 1,0. Ceci est généralement mesuré à l’aide d’un logiciel d’analyse d’image automatisé connecté à un microscope électronique à balayage (MEB), calculant la circularité de milliers de particules. Pour les emballages électroniques, un rapport de sphéricité acceptable est généralement >0,95. Les particules avec des rapports inférieurs présentent des irrégularités de surface qui augmentent la surface spécifique. Une surface spécifique plus élevée absorbe davantage de résine époxy liquide, laissant moins de résine disponible pour faciliter l’écoulement. la poudre de silice à haute sphéricité est directement corrélée à une viscosité réduite à l'état non durci. Cette faible viscosité permet au composé de s'écouler à travers des géométries de moules complexes, de naviguer autour de liaisons métalliques denses et de remplir des cavités microscopiques sans piéger de poches d'air ni provoquer de remplissages incomplets.

Distribution granulométrique (PSD) et densité de tassement

Atteindre un taux de remplissage de 90 % est impossible avec une seule granulométrie. Les ingénieurs s'appuient sur une distribution granulométrique (PSD) multimodale pour éliminer les vides interstitiels. En mélangeant des particules grossières, moyennes et fines (généralement allant de 0,01 μm à 50 μm), les plus petites particules s'insèrent précisément dans les espaces laissés par les plus grosses. Cela suit des modèles de compactage théoriques établis, tels que les modèles Andreasen ou Furnas, maximisant la fraction solide du composite.

Des coupes serrées spécifiques sont nécessaires pour les emballages avancés. Dans les sous-remplissages capillaires pour les conceptions à puce retournée, l'espace entre la puce et le substrat est extrêmement étroit. Si la taille maximale des particules dépasse un tiers de la hauteur de l'espace, les particules se coinceront, provoquant une séparation de la charge et un saignement de la résine. Les ingénieurs spécifient souvent des distributions strictes pour garantir une action capillaire fluide.

  1. Déterminez la taille minimale de l'espace dans la conception de l'emballage (par exemple, pas de bosse de 15 μm).

  2. Établir la coupe supérieure maximale absolue (D100) pour la poudre de silice, en veillant à ce qu'elle ne dépasse pas un tiers de la taille de l'espace (par exemple, 5 μm).

  3. Sélectionnez une fraction grossière primaire pour établir la matrice structurelle (par exemple, D50 de 2,5 μm).

  4. Mélanger les fractions fines secondaires et tertiaires (par exemple, 0,5 μm et 0,1 μm) pour combler les vides interstitiels entre les particules grossières.

  5. Vérifiez le PSD mélangé final à l’aide d’une analyse de diffraction laser pour vous assurer qu’aucun agglomérat surdimensionné n’est présent.

Exigences en matière de poudre de silice sphérique de haute pureté

Les éléments traces présents dans la matrice de silice peuvent détruire la fonctionnalité des semi-conducteurs. la poudre de silice sphérique de haute pureté nécessite un contrôle strict de deux catégories spécifiques de contaminants : les isotopes radioactifs et les impuretés ioniques.

Alpha Emission Control est un paramètre critique pour les dispositifs de mémoire. Le quartz naturel contient des traces d'uranium (U) et de thorium (Th). Lorsque ces éléments subissent une désintégration radioactive, ils émettent des particules alpha (noyaux d'hélium) dont les énergies sont comprises entre 4 et 9 MeV. Si une particule alpha frappe un nœud sensible dans une puce SRAM ou DRAM haute densité, elle génère des paires électron-trou dans le silicium. Cette charge transitoire peut inverser l'état d'un bit de mémoire, provoquant une « erreur logicielle ». Les matériaux d'emballage des puces mémoire nécessitent de la silice alpha ultra faible (ULA), avec des niveaux d'U et de Th strictement contrôlés en dessous de 0,001 ppb, générant moins de 0,001 comptes par heure par centimètre carré (cph/cm⊃2 ;).

Les impuretés ioniques constituent une menace sérieuse pour le câblage physique de la puce. Les ions libres tels que le sodium (Na+), le potassium (K+) et le chlorure (Cl-) deviennent mobiles en présence de traces d'humidité et de champs électriques. Au fil du temps, ces ions migrent vers les couches de métallisation d’aluminium ou de cuivre de la filière, provoquant une corrosion anodique ou cathodique. Cela entraîne une augmentation de la résistance électrique, des courts-circuits et une éventuelle panne de l'appareil. Les seuils acceptables pour les impuretés ioniques sont généralement maintenus en dessous de 1 ppm pour garantir une fiabilité à long terme.

Résultats de performances dans les applications de semi-conducteurs

Correspondance du coefficient de dilatation thermique (CTE)

L'objectif mécanique principal de la silice sphérique pour semi-conducteurs correspond au CTE. Lorsqu'une puce s'allume, elle génère de la chaleur. La puce en silicium, la grille de connexion en cuivre et l'encapsulant époxy se dilatent tous à des rythmes différents. Si la CEM se dilate trop, elle tire sur les fils de liaison et déforme le substrat. Le CTE d'un matériau composite suit la règle des mélanges. En chargeant l'époxy avec jusqu'à 90 % de silice sphérique (qui a un CTE d'environ 0,5 ppm/K), le CTE du matériau composite est ramené de 60 ppm/K à environ 8-15 ppm/K. Cela correspond étroitement à la puce en silicium et aux composants en cuivre. Cette correspondance précise empêche la déformation, arrête le délaminage au niveau des interfaces et élimine la fatigue thermique pendant les milliers de cycles de température qu'un appareil subit au cours de sa durée de vie.

Conductivité thermique et dissipation thermique

À mesure que la densité des transistors augmente, le flux thermique devient un facteur limitant les performances du dispositif. L'époxy non chargé est un isolant thermique, avec une conductivité thermique d'environ 0,2 W/m·K. La silice a une conductivité thermique inhérente plus élevée (de l'ordre de 1,3 à 1,5 W/m·K). Lorsque la silice sphérique est dense dans la matrice de résine, les particules entrent en contact physique les unes avec les autres, dépassant le seuil de percolation. Cela crée des chemins thermiques continus. Ce réseau évacue la chaleur de la puce en silicium et la transfère vers le dissipateur thermique externe ou l'environnement ambiant. Un emballage dense améliore la dissipation thermique, repoussant les limites supérieures de performances pour les composants haute puissance tels que les IGBT, les MOSFET et les microprocesseurs avancés.

Rendement de fabrication et fiabilité

Dans le processus de moulage par transfert, la CEM liquide est forcée dans les cavités du moule sous haute pression (généralement 5 à 10 MPa). Si les particules de charge sont angulaires, le fluide à haute viscosité résultant exerce des forces de traînée massives sur les délicats fils de liaison en or ou en cuivre reliant la puce à la grille de connexion. Ces fils n'ont souvent qu'une épaisseur de 15 à 25 micromètres. Cette traînée provoque un « balayage des fils », qui courbe les fils jusqu'à ce qu'ils se touchent et se court-circuitent. Le flux fluide des particules sphériques réduit considérablement cette force de traînée, gardant les fils intacts et maintenant des rendements de fabrication élevés. De plus, les particules sphériques ne rayent pas l'acier trempé des moules. Cette réduction de l'usure des moules réduit les coûts de maintenance des équipements, prolonge la durée de vie des outils et améliore la cohérence d'un lot à l'autre sur la chaîne de production.

Risques de mise en œuvre et stratégies d’atténuation

Défis de dispersion et agglomération

Alors que La poudre de silice sphérique offre des propriétés d'écoulement supérieures, la manipulation de qualités ultrafines présente des défis distincts. Les particules submicroniques possèdent une énergie de surface élevée et sont fortement influencées par les forces de Van der Waals. Lorsqu’elles sont mélangées à de l’époxy liquide, ces fines particules ont tendance à s’agglutiner, formant des agglomérats. Ces agglomérats agissent comme de grosses particules artificielles, perturbant le PSD soigneusement conçu et provoquant le blocage du matériau dans d'étroits espaces de sous-remplissage. Dans l'emballage durci, les agglomérats créent des concentrations de contraintes localisées, un durcissement inégal et des points faibles où des fissures peuvent se former. L'obtention d'une dispersion uniforme nécessite un équipement de mélange à cisaillement élevé, tel que des mélangeurs planétaires ou des broyeurs à trois cylindres, et un contrôle minutieux du profil rhéologique de la résine pendant l'étape de composition.

Agents de modification de surface et de couplage

Pour éviter l'agglomération et améliorer la résistance mécanique du composite, l'interface entre la silice inorganique et la matrice époxy organique doit être optimisée. La silice non traitée présente des groupes silanol hydrophiles (-OH) à sa surface, la rendant incompatible avec les résines époxy hydrophobes. Le prétraitement de la poudre de silice avec des agents de couplage au silane résout ce problème. La molécule de silane a deux extrémités fonctionnelles : l'une subit une hydrolyse et une condensation pour se lier aux groupes silanol de la silice, et l'autre réagit avec le polymère époxy pendant le durcissement. Ce pont chimique améliore l'adhésion interfaciale, empêche la pénétration d'humidité le long des limites des particules et améliore la dispersion uniforme. Les équipes d'ingénierie doivent évaluer s'il convient d'acheter de la silice prétraitée directement auprès du fournisseur ou d'effectuer une modification de surface en interne en fonction de leurs capacités de mélange et de la sensibilité de leur formulation.

Agents de couplage silane courants pour le traitement de surface en silice

Type d'agent de couplage

Groupe fonctionnel

Système de résine cible

Avantage principal

Époxysilane

Glycidoxy

Époxy standard (EMC, sous-remplissage)

Excellente liaison chimique, impact à faible viscosité

Aminosilane

Amino

Époxy, Polyimide

Haute réactivité, temps de durcissement rapides

Méthacryloxysilane

Méthacrylate

Acryliques, polyesters insaturés

Compatibilité réticulation radicalaire

Chaîne d’approvisionnement et cohérence d’un lot à l’autre

Des matières premières incohérentes conduisent directement à des échecs de production. Les variations de PSD, de rapports de sphéricité ou de niveaux de pureté entre les lots du fournisseur modifieront la viscosité de l'EMC, provoquant des remplissages de moule incomplets ou un balayage de fil inattendu. L’atténuation de ce risque nécessite une qualification stricte de la chaîne d’approvisionnement. Les équipes d’approvisionnement doivent exiger une documentation complète d’assurance qualité (AQ) pour chaque lot.

  1. Exécutez une analyse de diffraction laser sur les lots entrants pour vérifier que le PSD multimodal correspond aux spécifications D10, D50 et D90 convenues.

  2. Utilisez la spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif (ICP-MS) pour quantifier les métaux traces et les impuretés ioniques jusqu'au niveau des parties par milliard (ppb).

  3. Effectuer une analyse d’image automatisée par microscopie électronique à balayage (SEM) pour confirmer la morphologie et garantir que les rapports de sphéricité restent supérieurs à 0,95.

  4. Effectuer un comptage proportionnel du débit de gaz pour vérifier que les taux d’émission alpha restent inférieurs à 0,001 cph/cm⊃2 ; seuil pour les applications de qualité mémoire.

Conclusion

  1. Demandez des échantillons pilotes de 5 kg de mélanges multimodaux adaptés aux dimensions spécifiques de votre cavité de moule et aux tolérances d’espacement.

  2. Exécutez le profilage rhéologique à l'aide d'un viscosimètre à cône et à plaque à votre température de moulage cible (généralement 175 °C) pour vérifier le comportement d'écoulement et les limites de viscosité.

  3. Effectuez un cycle thermique standard JEDEC (Condition G, -40 °C à +125 °C) sur des emballages prototypes pour valider la correspondance CTE et vérifier le délaminage de la matrice.

  4. Auditez les installations de tests analytiques du fournisseur pour vous assurer qu’ils disposent d’équipements internes de comptage ICP-MS et d’émissions alpha pour une certification fiable des lots.

FAQ

Q : Quelle est la différence entre la silice standard et la poudre de silice sphérique pour les emballages électroniques ?

R : La silice standard est broyée mécaniquement, ce qui donne lieu à des particules angulaires et dentelées avec une surface élevée. Cette forme irrégulière crée une friction interne, limitant la charge de charge à environ 70 % avant que la résine ne devienne trop visqueuse à traiter. La silice sphérique est fabriquée par fusion à la flamme ou par synthèse chimique pour créer des particules lisses et arrondies. Cette morphologie minimise la surface et la friction, permettant aux ingénieurs d'atteindre des densités de compactage allant jusqu'à 90 % tout en conservant la faible viscosité requise pour le moulage par transfert et la distribution sous remplissage.

Q : Pourquoi la poudre de silice sphérique de haute pureté est-elle nécessaire pour les puces mémoire ?

R : Le quartz naturel contient des traces d'isotopes radioactifs, en particulier de l'uranium et du thorium. À mesure que ces éléments se désintègrent, ils émettent des particules alpha. Si une particule alpha frappe un nœud sensible dans un périphérique de mémoire haute densité comme la SRAM ou la DRAM, elle génère une charge électrique qui peut retourner un bit de mémoire, provoquant une erreur logicielle. La silice de haute pureté subit une synthèse chimique avancée ou une purification rigoureuse pour réduire ces éléments radioactifs à des niveaux alpha ultra-faibles (ULA), généralement inférieurs à 0,001 parties par milliard.

Q : Quelle est la taille de particule idéale pour la silice sphérique de qualité électronique ?

R : Il n’existe pas de taille de particule idéale. Atteindre une densité de tassement maximale nécessite une distribution granulométrique (PSD) multimodale. Les ingénieurs mélangent des particules grossières, moyennes et fines (généralement allant de 0,01 μm à 50 μm) afin que les particules plus petites remplissent les vides entre les plus grosses. La coupe supérieure spécifique dépend de l'application. Par exemple, les sous-remplissages capillaires pour les conceptions à puces retournées nécessitent des tailles de particules maximales strictes, souvent plafonnées à 2,5 μm ou 5 μm, pour empêcher le remplissage de se coincer dans des espaces étroits.

Q : Comment la poudre de silice à haute sphéricité affecte-t-elle le CTE des composés de moulage époxy ?

R : Les résines époxy non chargées ont un coefficient de dilatation thermique (CTE) élevé, tandis que les matrices en silicium ont un CTE très faible. Ce décalage provoque de fortes contraintes thermomécaniques lors du fonctionnement. Étant donné que la silice sphérique s'écoule facilement, les ingénieurs peuvent en charger un volume massif dans la matrice époxy. La silice possède par nature un faible CTE. En remplaçant 85 à 90 % du volume de résine par de la silice sphérique, le CTE global du matériau composite diminue considérablement, s'adaptant étroitement à la puce en silicium et empêchant le gauchissement.

Q : La silice sphérique pour semi-conducteurs peut-elle être utilisée dans des applications de sous-remplissage ?

R : Oui. La silice sphérique ultra-fine est la charge principale utilisée dans les sous-remplissages capillaires pour les emballages à puce retournée et les emballages avancés au niveau des tranches. La forme sphérique lisse est obligatoire pour cette application car elle permet au matériau de sous-remplissage de s'écouler rapidement à travers les espaces microscopiques (souvent 10 à 50 micromètres) sous la filière par action capillaire. Les charges angulaires se coinceraient entre les bosses de soudure, provoquant la séparation des charges, la formation de vides et une pénétration incomplète du sous-remplissage.

Q : Quel est l'impact de la méthode de fabrication sur la qualité de la silice sphérique ?

R : La méthode de fabrication dicte la pureté, la sphéricité et le coût de base du matériau. La fusion à la flamme fait fondre le quartz extrait de haute pureté et constitue la norme industrielle pour les composés de moulage époxy en grand volume, offrant une excellente sphéricité et une bonne pureté. Les méthodes de synthèse chimique, telles que le procédé sol-gel, construisent des particules de silice à partir de précurseurs moléculaires. Cette approche permet d'obtenir une sphéricité presque parfaite et une pureté ultra élevée, ce qui est strictement requis pour les nœuds logiques de pointe et les circuits intégrés de mémoire avancés où même des contaminants en parties par milliard provoquent des défaillances.

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